掠入射XRD（GIXRD）

掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让×射线略过样品表面的技术，这种技术能够更真实全面地表征出薄膜（特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底，因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。薄膜尺寸没有特别要求，但是需要测试面平整光洁，不要有遮挡物，这样测试结果才真实可信。

1，请确保测试的样品表面光滑平整，测试区域边缘处不要有遮挡，掠入射是平行光源，一旦有遮挡便会测到基底的信号，很容易遮盖需要测试物质的信号；

2，块体：长≤18mm，宽≤18mm，厚度≤2mm，不同的测试仪器要求的尺寸会有所不同，如有其他尺寸，可联系项目经理沟通确认。

3，样品寄送时请用软材料包装好避免快递运输过程中损坏。