双波段发射率测量仪IR-2200 元/样起可测粉末、薄膜、块体，可测范围：1-22 微米或者 8-14 微米。项目简介双波段发射率结果展示样品要求仪器是点源测试（即一个点测出一个数据），非全扫描，每样品正常测9次计算得到平均值，块体：样品直径3.5--4.8cm的片，厚最好1mm以上，太薄会透射，表面不要太粗糙有基底的薄膜样品，薄膜厚度最好10微米以上，太薄了测试基本上不准确粉末5g，不建议用粉末测试，误差较大
