同步辐射X 射线吸收谱(XAFS)

硬X 射线:一个样品测试一个元素 3500,含量不低于 1%,含量介于 0.1-0.5%之间的扫描 3-4 次,价格7000 元;低于 0.1%的根据具体情况另议。 软X 射线:一般是测 50eV~1500eV 的元素,3500 每元素每样,含量要求高,较低不易出信号。

全国服务热线:

0431-80514535

仪器型号: 同步辐射光源

测试范围: 50eV-20keV 皆可,高能机时另行通知,可做固体、粉末和液体样品,另有变温等原位条件。

项目简介

同步辐射吸收谱(XAFS)可以分为三个部分,边前区(Pre-edge)、近边区(XANES)和扩展边(EXAFS)。XANES可以得到吸收原子的电子结构,包括价态、对称性、轨道占据等信息;EXAFS可以得到吸收原子周围配位信息,包括配位原子种类、键长、配位数、无序度等信息。XAFS方法不依赖晶体结构、不限制样品形态、具有元素选择性、可得到体相平均结构信息,是研究原子配位环境的重要分析手段,是结构研究领域的强有力工具! 


结果展示

测试只有数据,不包含作图和分析,如需分析服务,请移步此链接:www.shiyanjia.com/buffet-230.html

数据分析能提供的分析结果文件:

1、Origin图:EKR空间对比图、R和K拟合图、和小波变换图;

2、word报告:整理分析的结果数据、拟合结果的表格等;

3、文件:提供分析后作图所需的数据;

4、不提供软件处理的源文件,不提供拟合所用的cif文件。

案例展示: 

图片关键词

样品要求

1、粉末样品最好过400目,尽量100mg以上;

2、块体或者薄膜长宽1cm左右,厚度一般1mm以内,需要具体评估合适厚度;

3、液体5ml,浓度越高越好(仅部分元素可测,具体请联系指南针工作人员);

4、请提前用ICP测定样品中元素的真实含量;

5、同步辐射数据分析下单连接:https://www.shiyanjia.com/buffet-230.html 

常见问题

1. 为什么曲线毛刺、跳边不明显、信噪比差?

数据质量一般,是由于元素含量较低,或其他元素组分干扰造成的,只能在做图时平滑处理或者在Athena中Deglitch。

2. 一个元素为什么测有两个数据?用哪一个?

两个或多个数据是用到了荧光模式,进行了多次扫描,将多组数据merge合并后再进行处理和分析。

3. 为什么边前区有翘起,不是平的?

需要Normalized处理,或者手动调节pre-edge range,再进行归一化处理。

4. 分析近边结构,为何都建议客户随样测标样?

因为不同时间测试,可能因为光和仪器状态不同,吸收能量值有偏差。所以每次测试都需要测foil,利用foil来校正能量,类似于XPS的C校正。因此如果需要精准对比价态标样是需要随样检测的。 

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