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X射线荧光光谱仪（XRF）

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PANalytical Axios； RIGAKU ZSX Priums ; 研磨费：100 元/样单质模式：160 元/样；氧化物模式：160 元/样；单质+氧化物模式：240 元/样

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详细信息

X 射线荧光光谱仪（XRF）

PANalytical Axios； RIGAKU ZSX Priums

研磨费：100 元/样
单质模式：160 元/样；氧化物模式：160 元/样；单质+氧化物模式：240 元/样

可测元素范围：常规测试范围 11Na-92U。

项目简介

X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法，主要用于确定材料中元素的种类和含量。XRF是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学等。

结果展示

测试结果给出的结果一般是Excel格式，且是归一化的。

（1）铝合金为例，单质测试结果如下表所示：

单质名称	含量（%）
Al	97.2965
Mg	1.1897
Si	0.6631
Fe	0.3688
Cu	0.2141
Cr	0.1582
Mn	0.0614
Zn	0.0259
Ga	0.0222

（2）高岭土为例，氧化物测试结果如下表所示：

氧化物名称	含量（%）
SiO2	51.0484
Al2O3	45.4433
TiO2	2.1478
K2O	0.3758
Fe2O3	0.3081
P2O5	0.2297
CaO	0.1737
SrO	0.1047
SO3	0.0942
ZrO2	0.0635
CuO	0.0109

样品要求

1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品

2. 粉末样品：粉末样品需要至少2 g ，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，可以过200目筛的样品无需研磨；含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试；

3. 块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整），块体样品最好平面平整光滑，上下面平行；

4. 粉末样品只能回收剩余的样品；

常见问题

1. 为什么要求XRF测试粉末样品用量最好达到3 g以上？

因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。

2. 为什么XRF测试要求薄膜（块体）样品尺寸直接要大于2.5 cm？

因为放置薄膜（块体）样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。

3. XRF测试可以精确到多少？

XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。

4. 含碳量高为什么一定要烧成灰再测试？

含碳量高，C大多数情况下是测不到的，那就在归一化的背景里面，其他元素实际含量是扣除C以后按100%归一的；含碳量高压片可能会不好压片，如果加入粘合剂那么就相当于进一步稀释了待测元素，检出限就提高了。所以一般含碳量高、含有机物的样品需要烧成灰，然后再测试。

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