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项目简介
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法，主要用于确定材料中元素的种类和含量。XRF是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学等。
结果展示
测试结果给出的结果一般是Excel格式，且是归一化的。
（1）铝合金为例，单质测试结果如下表所示：
| 单质名称 | 含量（%） |
| Al | 97.2965 |
| Mg | 1.1897 |
| Si | 0.6631 |
| Fe | 0.3688 |
| Cu | 0.2141 |
| Cr | 0.1582 |
| Mn | 0.0614 |
| Zn | 0.0259 |
| Ga | 0.0222 |
（2）高岭土为例，氧化物测试结果如下表所示：
| 氧化物名称 | 含量（%） |
SiO2 | 51.0484 |
Al2O3 | 45.4433 |
TiO2 | 2.1478 |
K2O | 0.3758 |
Fe2O3 | 0.3081 |
P2O5 | 0.2297 |
CaO | 0.1737 |
SrO | 0.1047 |
SO3 | 0.0942 |
ZrO2 | 0.0635 |
CuO | 0.0109 |
样品要求
1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品：粉末样品需要至少2 g ，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，可以过200目筛的样品无需研磨；含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试；
3. 块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整），块体样品最好平面平整光滑，上下面平行；
4. 粉末样品只能回收剩余的样品；
常见问题
1. 为什么要求XRF测试粉末样品用量最好达到3 g以上？
因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。
2. 为什么XRF测试要求薄膜（块体）样品尺寸直接要大于2.5 cm？
因为放置薄膜（块体）样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。
3. XRF测试可以精确到多少？
XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。
4. 含碳量高为什么一定要烧成灰再测试？
含碳量高，C大多数情况下是测不到的，那就在归一化的背景里面，其他元素实际含量是扣除C以后按100%归一的；含碳量高压片可能会不好压片，如果加入粘合剂那么就相当于进一步稀释了待测元素，检出限就提高了。所以一般含碳量高、含有机物的样品需要烧成灰，然后再测试。
