俄歇电子能谱AES

PHI710、PHI680 等; 采谱(2 个点)1500 元/样;mapping、深度溅射,2000元/小时,只收测试时间的费用。

全国服务热线:

0431-80514535
俄歇电子能谱 AESPHI710PHI680 采谱(2 个点)1500 元/样;mapping、深度溅射,2000元/小时,只收测试时间的费用可做AES 测试表面谱图点扫;深度刻蚀;Mapping;线扫。

项目简介

AES测试表面谱图点扫;深度刻蚀;Mapping;线扫

结果展示

  1. AES SEI成像+能谱图+元素定性半定量分析

     

    图片.png

  2. AES俄歇成分成像 (MAPPING)

    图片.png

  3. AES深度剖析曲线

    图片.png

样品要求

样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性,无磁性,无挥发性等; 固态样品:片状、块状或粉末。 另外在样品的保存和传送过程中应尽量避免样品表面被污染。在任何时候, 对被分析样品的表面都应尽量少地接触和处理。


建议:样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装。


在线预定