光热升温系统/红外热成像

美国 FLIR T540 等;300 元/浓度起

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光热升温系统/红外热成像美国 FLIR T540 等300 元/浓度起测试物体表面温度场,可测试粉末、溶液、块体/薄膜样品,可测温度范围:-20℃-1500℃。

项目简介

由于黑体辐射的存在,任何物体都依据温度的不同对外进行电磁波辐射。波长为2.0~1000微米的部分称为热红外线。热红外成像通过热红外敏感CCD对物体进行成像,能反映出物体表面的温度场。热红外在军事、工业、汽车辅助驾驶、医学领域都有广泛的应用。

测试的基本原理是采用热像仪采集样品的红外热辐射强度,根据热辐射强度与温度之间的关系公式,得出样品的温度。

测试一般步骤是(具体以实际为准):

1、将样品置于加热台戓激光下;

2、调节热像仪对待测样品清楚成像;

3、开始加热台戓激光对样品进行加热,同时开启热像仪对样品进行实时拍摄;

4、关加热台戓激光,同时热像仪停止拍摄;

5、热像仪数据处理,导出热像仪图片戓升温曲线,及录像;

样品要求

粉末:粉末铺的尺寸不小于10X10mm正方形,或者直径10mm的圆片,厚度在1-2mm。

块体/薄膜:尺寸要在10mmx10mmx1mm 和40mmx40mmx2mm之间。

溶液:溶液确定使用的容器,一般是在烧杯里测试。


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